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干涉仪可以用于测量物体的厚度，其原理基于光的干涉现象，通过测量干涉条纹的间距或者观察干涉图案的变化，可以计算出物体的厚度。
当光波在两层不同介质之间反射和折射时，会产生干涉现象，通过调整干涉仪的光程和观察干涉图案，可以测量物体表面的平整度、薄膜的厚度等参数。
利用光波干涉原理设计的薄膜厚度测量仪，通过光源发出的光波在薄膜表面产生反射和干涉，然后测量干涉条纹的间距和数量，可以计算出薄膜的厚度，这种测量方法具有较高的精度和可靠性，广泛应用于光学、电子、材料等领域。
还有其他类型的干涉仪，如迈克尔逊干涉仪等，也可以用于测量物体的厚度，这些干涉仪通过调整光路、观察干涉图案的变化，结合相关的光学原理和数据处理方法，可以实现对物体厚度的精确测量。
需要注意的是，干涉仪测量厚度的方法对于测量环境、光源、物体表面的状态等因素都有一定的要求，因此在实际应用中需要根据具体情况进行选择和调整。